日立CMI563手持式鍍層測厚儀采用微電阻技術(shù)，實現(xiàn)對表面銅的準確測量

CMI563 提供*技術(shù)，可對表面銅實施準確的測量，同時確保PCB的背面銅箔不會干擾到讀數(shù)(不考慮覆銅板的厚度)。

借助我們的CMI563R，您可輕松實現(xiàn)覆銅板、化學(xué)銅或有電鍍銅的精確厚度測量。該儀表是如下方面的理想之選:

PCB制造和裝配。

面銅厚度。

我們的CM563可對柔性或剛性的單面、雙面或多層板材實施表面銅厚度測量。

SRP-4探針

CMI563儀表標配帶系繩和用戶可更換的SRP-4探針。這一探針設(shè)計采用4個牢固封入的插腳以實現(xiàn)耐用性。其透明外殼便于放置。系繩電纜適合于現(xiàn)場應(yīng)用，并且其占用很小的面積，從而帶來便利性。

微電阻技術(shù)

借助微電阻技術(shù)，CMI563R可高度準確地測量化學(xué)銅和電鍍銅，甚至可進行微區(qū)測量。其使用四點接觸方式產(chǎn)生電信號。電流在樣品的外部插腳之間穿行，此時測量內(nèi)部插腳之間的電壓下降。